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磁耦數字隔離器瞬態共模抑制性能的電路仿真方法

徐昕; 陳品君; 劉路揚; 高會壯 北京賽迪君信電子產品檢測實驗室有限公司; 北京100089
  • 耦合參數
  • 瞬態共模抑制
  • 磁耦數字隔離器
  • pspice仿真

摘要:為解決磁耦數字隔離器的瞬態共模抑制(CMTI)不能準確測試的問題,研究了磁耦合數字隔離器瞬態共模抑制的測試及耦合機理。對耦合電阻、電容兩個耦合參數進行了仿真驗證,對仿真得到的器件輸出波形進行抓取與分析,說明了電路中不同測試條件對仿真結果的影響。以ADI公司的典型磁耦數字隔離器ADUM1200型為例,采用小電容大電阻模型模擬實際耦合,分析并且明確了耦合電容大小狀態,驗證磁耦合數字隔離器瞬態共模抑制仿真方法是否具有一定的有效性。

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