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摘要:為了研究核退役裝備在核輻射環境下作業時圖像監控設備的工作狀態等數據,對用在核退役作業現場的某國產CMOS圖像傳感器進行γ輻照實驗。采集得到輻照時的γ射線對CMOS圖像傳感器所輸出的暗圖像造成的干擾數據,并研究γ射線對CMOS圖像傳感器的性能參數影響。實驗結果表明:輻射射線的總劑量效應使得傳感器中暗電流增大,傳感器輸出的圖像里脈沖顆粒噪聲與平均灰度值會隨著輻照劑量的變化而發生變化。
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