摘要：研究寬頻電磁脈沖(Wide-band electromagnetic pulse,WEMP)輻照對正常細胞的損傷作用,尋找輻照參數與細胞凋亡之間的作用規律,為探索WEMP輻照損傷機理模型提供實驗依據.利用Cell Counting Kit-8檢測WEMP輻照后細胞的活力變化,采用流式細胞術分析細胞凋亡損傷情況,利用統計分析和數據擬合的方法探討WEMP場強、脈沖個數與細胞凋亡之間的作用規律.結果表明,在本實驗條件下,場強與脈沖個數都是引起人羊膜上皮細胞(AECs)凋亡率增加的因素,其中,電場強度為主要因素,脈沖個數為次要因素,兩者之間存在交互作用.細胞凋亡率與電場強度之間呈現出Logistic函數規律.